Разработка средств повышения эффективности обеспечения качества решений систем тестирования, встроенных в наноразмерном кристалле

Соискатель
Научный руководитель/Консультант
Искомая ученая степень
Кандидат наук
Специальность
Электроника, микро- и наноэлектроника
Ե.27.01
Дата защиты
Статус
В процессе
Завершено

2024

Ատենախոսության սեղմագիրը
Ա.Բաբայան (956.69 KB)