Разработка средств повышения эффективности обеспечения качества решений систем тестирования, встроенных в наноразмерном кристалле

Соискатель
Научный руководитель/Консультант
Искомая ученая степень
Кандидат наук
Специальность
Электроника, микро- и наноэлектроника
Ե.27.01
Дата защиты
Завершено

2024

Подтверждено
Առաջատար կազմակերպության կարծիքը
Երևանի կապի միջոցների գիտահետազոտական ինստիտուտ (203.69 KB)
Ընդդիմախոս Ա.Տրդատյանի կարծիքը
Ա.Տրդատյան (210.16 KB)
Ընդդիմախոս Օ.Պետրոսյանի կարծիքը
Օ.Պետրոսյան (190.41 KB)
Ատենախոսության սեղմագիրը
Ա.Բաբայան (956.69 KB)